1. Transmisyon Elektron Mikroskobu (TEM):
- TEM, dislokasyonların doğrudan görselleştirilmesinde yaygın olarak kullanılan bir tekniktir.
- İnce bir numune yüksek enerjili bir elektron ışınıyla ışınlanır ve iletilen elektronlar bir görüntü oluşturmak için kullanılır.
- Dislokasyonlar kristal kafeste çizgi kusurları veya düzensizlikler olarak görünür.
2. Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM):
- SEM, çıkıkların varlığını ortaya çıkarabilen başka bir görüntüleme tekniğidir.
- SEM'de odaklanmış bir elektron ışını numunenin yüzeyini tarar ve yayılan ikincil elektronlar tespit edilerek bir görüntü oluşturulur.
- Dislokasyonlar yüzey basamakları veya düzensizlikler şeklinde görülebilir.
3. X-ışını Kırınımı:
- X-ışını kırınımı, malzemelerin kristal yapısını incelemek için kullanılan, tahribatsız bir tekniktir.
- Dislokasyonlar kristal kafeste bozulmalara neden olarak X-ışını kırınım desenlerinde değişikliklere yol açabilir.
- Bu değişiklikler analiz edilerek çıkıklar belirlenebilir ve karakterize edilebilir.
4. Gravür Teknikleri:
- Dağlama, malzemeyi bir numunenin yüzeyinden seçici olarak uzaklaştıran kimyasal bir işlemdir.
- Dislokasyonlar aşındırma için tercihli alanlar olarak hareket edebilir ve aşındırma çukurlarının oluşmasına yol açabilir.
- Aşındırma çukurları optik mikroskop kullanılarak gözlemlenebilir ve çıkıkların konumu ve yoğunluğu hakkında bilgi sağlayabilir.
5. Ultrasonik Teknikler:
- Ultrasonik dalgalar dislokasyonlarla etkileşime girerek bunların titreşmesine ve akustik sinyaller üretmesine neden olabilir.
- Akustik sinyaller analiz edilerek çıkıkların varlığı ve özellikleri belirlenebilir.
6. Elektrik Teknikleri:
- Bazı malzemelerde dislokasyonlar iletkenlik ve taşıyıcı konsantrasyonu gibi elektriksel özellikleri etkileyebilir.
- Bu elektriksel değişiklikler ölçülerek dislokasyonlar belirlenebilir ve incelenebilir.
Dislokasyonları tanımlamak için kullanılan özel tekniğin, araştırılan dislokasyonların doğasına ve malzemesine bağlı olarak değişebileceğini unutmamak önemlidir.